大湾区大学（筹） 

报告摘要：

YBCO超导薄膜的电学性能一致性与表面粗糙度和厚度均匀性的控制高度相关。然而，传统接触式等表征手段难以满足量产工艺对在线监测的高通量、无损化需求。本报告聚焦光学多模态无损表征技术，解析如何通过宽场干涉显微术实现纳米级粗糙度的快速全场映射，以及如何通过X射线反射/荧光光谱完成薄膜厚度的大面积扫描快速扫描，为PLD/MOCVD工艺研发人员提供及时和无损的质量评估手段，为工艺窗口的优化提供数据支撑。

报告人简介：

王明聪，四川大学学士和硕士、中国工程物理研究院博士、阿卜杜拉国王科技大学博士后研究员，现任大湾区大学（筹）特聘研究员、助理教授，主要从事超快激光光谱技术（瞬态吸收、太赫兹光谱、时间分辨光致发光光谱）及其在拓扑、超导、光伏和发光材料中的应用研究，在PRL、Nat. Commum.、Angew. Chem.等期刊发表多篇唯一第一作者学术论文，入选教育部海外青年人才、苏州汾彩领军人才、东莞市特色人才，兼任松山湖材料实验室客座研究员、东莞市微纳光场调控与感知重点实验室副主任。

邀请人：李潜 qianli@iphy.ac.cn

联系人：王慧颖 why@iphy.ac.cn

报告地点：怀柔园区MA楼505会议室

腾讯会议：754-849-575

会议密码：2025

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