布鲁克公司

报告摘要：

本报告将系统阐述布鲁克X射线衍射仪所采用的TWIN-TWIN双光路光学系统及其在多功能集成与高通量材料表征中的前沿应用。该技术平台显著拓展了X射线衍射分析的能力边界，涵盖物相识别与晶体结构解析、无标样定量相分析与Rietveld结构精修、小角X射线散射（SAXS）在纳米尺度介孔结构分析中的应用，以及针对薄膜材料的掠入射衍射（GID）与X射线反射率（XRR）等表面与界面敏感测量技术。报告将结合具体研究案例，深入探讨其在功能材料、高分子体系和薄膜器件等多类材料研究中的实验方案设计与数据解析方法。

报告人简介：

朱性齐博士是布鲁克AXS公司资深应用科学家，长期致力于X射线衍射（XRD）与小角X射线散射（SAXS）技术的方法创新、应用支持与跨学科合作。他于2008年在北京大学高分子化学与物理专业获得博士学位，期间专注于软物质体系的相行为与结构解析，尤其在聚合物自组装与复杂流体领域积累了深厚的理论基础与研究经验。博士毕业后，朱性齐博士曾加入奥地利安东帕公司，参与X射线分析仪器的核心技术研发，专注于高通量表征方法与实时原位测量技术的开发。2014年至今，他任职于布鲁克公司，全面负责中国区XRD及SAXS技术的应用支持、高级用户培训与定制化测试方案设计，协助多个研究团队在功能材料、纳米结构及薄膜器件等领域完成多项前沿研究。朱博士具有丰富的交叉学科合作经验，曾与国内多所知名高校及研究所合作，推动X射线分析技术在新型能源材料、高分子物理和纳米科学中的应用。其合作研究成果多次发表于国际高水平期刊，包括《Angewandte Chemie International Edition》《Macromolecules》等，并在多项国内外会议中受邀发表专题报告。此外，他还积极参与技术推广与学术交流，致力于促进先进表征技术在国内科研领域的应用与发展。‌

邀请人：丁大伟

联系电话：82649880

地点：物理所D楼611会议室