日本北陆先端科学技术大学院大学（JAIST）

报告摘要：
石墨烯因其理论电子迁移率可达约2×105 cm2 V-1 s-1，远高于目前广泛使用的硅半导体而备受关注，开发石墨烯纳米器件也成为近年研究的热点。通常情况下，单原子层石墨烯薄片被转写至SiO2/Si等的基板上制备成纳米器件，然而研究表明，来自基板表面的声子散射会抑制室温下石墨烯内的电子迁移速率。如果要测量室温下石墨烯的真实电导率与其微观结构的关系，就有必要去除基板的影响。本研究旨在制备出以悬空石墨烯纳米带为基本单元的纳米器件，并借助于透射电子显微镜的原位观察，解析石墨烯纳米带的边界构造与其自身导电性能的关系。报告中着重介绍两电极悬空石墨烯纳米带器件的制备过程，以及为实现原位观察所设计开发的透射电子显微镜专用样品杆。

报告人简介：
张晓宾，北陆先端科学技术大学院大学助理教授。2012年毕业于日本埼玉工业大学，获博士学位，先后在日本国立材料研究所（NIMS），东京工业大学，北陆先端科学技术大学院大学（JAIST）做博士后，目前为JAIST纳米材料与技术中心的助理教授。主要从事透射电子显微镜的技术与相关应用研究，在Microscopy and Microanalysis, Ultramicroscopy, Microscopy等显微镜专业期刊上发表多篇学术论文。博士阶段与NIMS的课题组共同从事共聚焦扫描透射电子显微镜（Scanning Confocal Electron Microscopy）三位成像的研究，主要借助于解卷积方法提高SCEM的纵向分辨率，以弥补透射电子显微镜焦点深度过大，以及扫描模式下的电子束衬度传递函数存在的锥形区域信息缺失的问题。博士后阶段的主要工作是采用强度输送函数（Transport of Intensity Equation）提取纳米材料中的相位信息。区别于常用的电子全息术，TIE法对仪器没有特殊的要求，对材料本身也几乎没有限制，因此适用面更广。通过金纳米颗粒的相位解析，对TIE法提取相位的空间分辨率进行了实证，同时借助于单原子层二硫化钼薄片，首次获得了原子尺度的相位分布图，相关研究成果被用做日本显微镜学会会刊的封面图片。

联系人：白雪冬（82648032）